平成28年度 東京大学大学院情報理工学系研究科博士後期課程入学試験 専門科目における出題ミスについて記者発表

平成28年3月4日

東京大学
 

このたび、平成28年度東京大学大学院情報理工学系研究科大学院入学試験において、システム情報学専攻博士後期課程「専門科目」の試験問題の一部に出題ミスがあることが判明いたしました。出題ミスが確認された経緯、出題の誤り及び本学の対応は次のとおりです。
なお、入学試験合否判定においては、不利益を被る受験者がないように措置いたしました。

1． 出題ミスの内容
平成28年2月2日（火）に実施されたシステム情報学専攻博士後期課程「専門科目」の第3問 において、式が成り立つための（条件）の中で、不等号の向きが「≪」であるべきところ、「≫」と誤記されていた。

2． 出題ミスの発見の経緯
当該問題の採点者が模範解答を確認しながら答案を採点していた時（2月2日19時頃）に、（条件）の不等号の向きが逆であることに気づき、出題者に確認を行い誤記が判明した。
博士後期課程（冬入試）受験者数は19名、システム情報学専攻受験者数は2名、当該試験問題受験者数は1名であった。

3． 採点方法及び受験者への周知について
当該試験問題の受験者は1名のため、受験者間の公平性を考慮する必要がなかった。また、当該ミスが採点に影響を与えるのは第3問(2)のみであるが、この小問も記載された「xy平面上の」という条件に基づき磁束密度のz成分Bzを導出して解答することが可能な問題であったため、当該試験問題受験者の解答内容を慎重に確認したうえで、適切な措置をとった。
当該試験問題受験者（1名）に対しては、出題ミスの内容と対応について記述した通知文を2月16日（火）に速達で郵送した。

4． 出題ミスが起こった原因とチェック体制について
システム情報学専攻博士後期課程「専門科目」の試験問題の作成は、受験者ごとの研究専門分野に特化した異なる試験問題を施している。出題者と採点者の協力のもとで、出題者が問題を作成した上で、出題者と採点者で問題をチェックし、採点するという手順を通常とっている。
当初、上記問題の（条件）で記載された不等号の向きに対応した磁束密度B(r,t)を記載した問題を作成した。しかし、難易度が高くなりすぎると判断されたため、現在記載されている磁束密度B(r,t)に変更した。これに伴い（条件）の不等号の向きを変えるべきところであったところを、修正が施されなかった。

5． 再発防止対策等
作問の作業において、出題者が採点者に問題の主旨を十分に説明した上で作問にあたり、最終原稿において出題者と採点者によるチェックを確実に行うよう周知徹底し再発防止に努める。

[当該問題]