ナノ計測インフォマティクス

溝口 照康
生産技術研究所
教授
電子エネルギー損失分光(EELS)やX線吸収分光(XAFS)は触媒や電池、半導体などの開発に広く利用されている強力なナノ計測手法です。我々はそれらナノ計測法と機械学習を組み合わせた新しい物質解析手法の開発に取り組んでいます。現在までの研究で、スペクトルに含まれる未知情報の抽出に成功しています。
スペクトルが反映している励起状態を基底状態から予測
溝口 照康
スペクトルから物性を予測
溝口 照康

プロジェクトに関するURL

共同実施者

・産業技術総合研究所(AIST)
・物質・材料研究機構(NIMS)
・京都大学
・弘前大学

主な関連論文

"Learning excited states from ground states by using an artificial neural network"
S. Kiyohara, M. Tsubaki, and T. Mizoguchi
npj Comp. Mater., 6 (2020) 68-1-6 DOI:10.1038/s41524-020-0336-3.
 
"Machine learning applications for ELNES/XANES"
T. Mizoguchi and S. Kiyohara
Microscopy, 69 (2020) 92-109. DOI:10.1093/jmicro/dfz109
 
"Quantitative estimation of properties from core-loss spectrum via neural network"
S. Kiyohara, M. Tsubaki, Kunyen Liao, and T. Mizoguchi
J. Phys.: Materials, 2 (2019) 024003-1-9.
 
"Data-driven approach for the prediction and interpretation of core-electron loss spectroscopy"
K. Kiyohara, T. Miyata, K. Tsuda, and T. Mizoguchi
Scientific Reports, 8 (2018) 13548-1-12.

関連するSDGs項目

  • 目標6:安全な水とトイレを世界中に
  • 目標7:エネルギーをみんなにそしてクリーンに
  • 目標9:産業と技術革新の基盤をつくろ

問い合わせ先

  • 担当: 溝口 照康
  • メールアドレス: teru[at]iis.u-tokyo.ac.jp
    ※[at]を@に置き換えてください
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