ToF型角度分解光電子分光による単原子層の量子状態の研究

  • 2.3 量子物性(トポロジカル物質、熱電素子、機能物性など)
  • 2.5 量子配線・エレクトロニクス
湯本 潤司
理学系研究科
特任研究員 東京大学特任教授
飛行時間(ToF)型角度依存光電子分光技術は、高効率かつ高分解能で物質のエネルギー分散関係を計測できる。本技術を用い、遷移金属ダイカルコゲナイド(TMDS)やグラフェンなどの単原子層膜、あるいは数原子層膜の価電子帯、伝導体のエネルギー分散特性を計測し、低消費電力で高速な量子デバイス実現の可能性を追求する。
ToF型光電子分光による物質表面及び内部での電子状態の解明
左図:ARTOFで観測されたBi2Te3表面の荷電子帯、伝導体の電子構造。
右図:Bi2Te3の伝導体電子構造の観測

共同実施者

森田 悠介 助教

主な関連論文

未発表
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