東京大学微構造解析プラットフォーム
- 3.7 先進デバイス・マテリアル評価計測技術（SEM、AFM、OCD、TEMなど）
幾原 雄一
工学系研究科
教授
本プロジェクトでは、ナノ計測・分析に関する最先端の計測設備を集中的に配備・共用化し、先進半導体、ナノテクノロジー・材料分野全般の研究支援を全国規模で展開している。
東京大学微細構造解析プラットフォーム
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主な関連論文
- K.Takiguchi et al., “Giant gate-controlled proximity magnetoresistance in semiconductor-based ferromagnetic–non-magnetic bilayers,” Nat. Phys., 15, 1134-1139 (2019).
- T. Makita et al., “High-performance, semiconducting membrane composed of ultrathin, single-crystal organic semiconductors,” PNAS, 117, 80-85 (2020).
- A. Kumamoto et al., “Atomic structures of a liquid-phase bonded metal/nitride heterointerface,” Sci. Rep., 6, 22936 (2016).
関連するSDGs項目
問い合わせ先
- 担当： 柴田 直哉
- 電話： 03-5841-0415
- メールアドレス： shibata[at]sigma.t.u-tokyo.ac.jp
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